La fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) est une technique couramment utilisée pour la détermination qualitative et quantitative des éléments principaux et des oligo-éléments dans une variété de types d'échantillons différents. La grande polyvalence résulte de la capacité d'effectuer des analyses multi-éléments rapides et non destructives, allant de faibles concentrations en parties par million (ppm) à des concentrations élevées en pourcentage en poids (% en poids) pour les éléments sodium (11Na) et uranium (92U).

Notre spectromètre NEX DE VS EDXRF offre d'excellents résultats dans une large gamme de matrices - des liquides homogènes à faible viscosité aux solides, films minces, métaux, poudres, échantillons pâteux et boueux - avec une préparation minimale ou nulle.

Grâce à la technologie des détecteurs de dérive au silicium, l'instrument offre des résolutions et des statistiques de comptage nettement améliorées, ce qui se traduit par une précision d'étalonnage et une précision supérieures, même pour les mesures les plus complexes.

Le NEX DE VS est la solution optimale pour les applications exigeantes, ou dans les situations où le temps d'analyse ou le débit d'échantillons est critique, et se caractérise par une sensibilité élevée pour les éléments lourds tels que le cadmium ou le plomb.

Grâce à la caméra haute résolution intégrée de la NEX DE VS, il est possible d'analyser facilement une zone spécifique (1, 3 ou 10 mm de spot de collimateur) de l'échantillon ou un échantillon en mm.