La fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) est une technique couramment utilisée pour la détermination qualitative et quantitative des éléments principaux et des oligo-éléments dans une variété de types d'échantillons différents. La grande polyvalence résulte de la capacité d'effectuer des analyses multi-éléments rapides et non destructives, allant de faibles concentrations en parties par million (ppm) à des concentrations élevées en pourcentage en poids (% en poids) pour les éléments du sodium (₁₁Na) à l'uranium (₉₂U).

Le spectromètre NEX DE EDXRF permet l'analyse élémentaire de routine d'une large gamme de substances de base - des liquides homogènes de toutes viscosités aux solides, films minces, alliages, suspensions, poudres et pâtes.

Grâce à la technologie des détecteurs de dérive au silicium, l'instrument offre des résolutions et des statistiques de comptage nettement améliorées, ce qui se traduit par une précision d'étalonnage supérieure, même pour les mesures les plus complexes.

Le NEX DE est la solution optimale pour les applications exigeantes, ou lorsque le temps d'analyse ou le débit d'échantillons est critique, et se caractérise par une sensibilité exceptionnelle pour les éléments lourds tels que le cadmium ou le plomb.