Die energiedispersive Röntgenfluoreszenzspektroskopie (EDXRF) ist eine routinemässig eingesetzte Analysetechnik zur qualitativen und quantitativen Bestimmung der Elementzusammensetzung einer Vielzahl von Probentypen. Der Hauptgrund für die grosse Anwendungsvielfalt und Häufigkeit des Einsatzes der Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) ist, dass mit dieser Analysemethode schnelle und zerstörungsfreie Multielementanalysen - von Natrium Na bis Uran U - durchgeführt werden können. Und das in einem Messbereich von wenigen ppm bis zu hohen Gewichtsprozenten.

Das brandneue NEX CG II EDXRF-Spektrometer liefert exzellente Ergebnisse in einem weiten Matrixbereich - von homogenen, niedrigviskosen Flüssigkeiten bis hin zu Feststoffen, Metallen, Pulvern, Pasten und aufgeschlämmten Proben, Beschichtungen und dünnen Filmen - bei minimaler Probenvorbereitung.

Es eignet sich besonders für die semi-quantitative Bestimmung von Elementanteilen in völlig unbekannten Proben. Das Röntgenfluoreszenzspektrometer findet breite Anwendung in der Umweltanalytik (Bestimmung von Schwermetallen), Lebensmittelanalytik, Forschung und Industrie.

Systemmerkmale:

• Völlig neu konzipiertes Gerät mit verbesserten analytischen Leistungen:

• Indirekte Anregung für aussergewöhnlich niedrige Nachweisgrenzen

• Das einzige EDXRF-Gerät mit echter kartesischer Geometrie auf dem Markt mit Röntgenstrahlengängen im 90°-Winkel (orthogonal), was effizienter ist und eine Polarisation erzeugt, bei der alle Röntgenstrahlen in einer Ebene liegen
• 50 kV 50 W (NEX CG II) oder 65 kV 100 W (NEX CG II+) Pd-Anoden-Röntgenröhre
• 5 Sekundär-Targets und Polarisatoren kombiniert mit einem neu optimierten Al-Target für eine 10-fach niedrigere LOD für einige Elemente.
• Indirekte Anregung unterdrückt den Bremsstrahlungshintergrund über den gesamten Energiebereich und erhöht das Signal-Rausch-Verhältnis, um niedrigere Nachweisgrenzen und eine verbesserte Präzision und damit hervorragende FP-Leistungen zu erzielen

• Fortschrittlichster grossflächiger Silizium-Drift-Detektor (SDD)

• SDD mit hohem Durchsatz und <135eV @ Mn K-alpha Linie
• Digitaler Pulsprozessor mit frei wählbarer Shaping-Zeit
• Erhöht die Empfindlichkeit für die meisten Elemente um mindestens den Faktor 2 im Vergleich zur ersten NEX CG-Generation. Damit ist das NEX CG II für einige Anwendungen sogar mit einigen WDRFA vergleichbar.

• Verbesserte Heliumspülung, die im Vergleich zum NEX CG nur die Hälfte der Flussrate (0,35 L/min) benötigt

• Neu entwickelte Probenwechsler mit einzigartiger Parkposition, um jegliches Risiko des Verschüttens nach der Messung zu vermeiden, erhältlich in 4 Versionen:

• 15 Positionen 32mm
• 10 Positionen 40mm
• 10 Positionen 40mm mit Spinner
• 9 Positionen 52mm für grosse Proben wie Filter

• Grosse Probenkammer
  
  • 32,5 cm Durchmesser x 7,5 cm tief

• Reduzierte physische Grösse um 40% und reduziertes Gewicht um 18% im Vergleich zur ersten Generation des NEX CG

• Leistungsstarke und einfach zu bedienende QuantEZ-Software
  
  • Mehrsprachige Benutzeroberfläche
  • LIMS

• Niedrige Betriebskosten, unterstützt durch eine 2-jährige Garantie